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方阻測量時保護探頭的重要性
2019-10-09 15:23:26 來源:原創 方阻測量時保護探頭的重要性
方阻也稱為方塊電阻,指一個正方形的薄膜導電材料邊到邊間的電阻作為描述。
涂層類,鍍膜類產品基本上都是通過測量方阻的形式來衡量樣品的厚度。
方塊電阻有一個特性,即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的
影響方阻的因素主要有以下幾個方面:
探針與邊緣的距離;
探針之間的等距離
一般測量方阻的儀器有手持式和臺式兩種,這也是目前市場上比較常見的,
手持式的FT-392手持式四探針測試儀;臺式的FT-331四探針方阻測試儀;
手持式的精度一般都比臺式的低些,臺式的量程寬些,當然,精度也高很多。
方阻儀測量特別注意對探頭的保護,探針的保護是非常重要的,我們很多使用者,從出現探針被弄壞,探針丟失,探針沒有彈性,以及探針形變等,這些都是由于保管不到位造成的,正常情況下,一付探針的使用壽命可以達到3年左右,比較頻繁的使用條件下。
方阻測試對環境要求也是比較高的,建議在相當恒定的環境下測量,減少溫度,濕度偏差及其他不確定性操作的數據偏差,
同時建議在測試中,采用PC軟件來做分析,這樣可以觀察過程數據變化及數據的保存等,都是不錯的選擇。
上一篇:半導體材料四探針電阻率測試步驟流程下一篇:振實密度儀的功能簡述和應用范圍
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